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SJ5730接觸式輪廓測(cè)量?jī)x的測(cè)量原理為直角坐標(biāo)測(cè)量法，即通過(guò)X軸、Z軸傳感器，測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn)，通過(guò)電器組件，將傳感器所測(cè)量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機(jī)，軟件對(duì)所采集的原始坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理，標(biāo)注所需的工程測(cè)量項(xiàng)目。是測(cè)量各種機(jī)械零件素線形狀和截面輪廓形狀的精密設(shè)備。

中圖儀器光學(xué)輪廓儀分辨率0.1μm，重復(fù)性0.1%，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡(jiǎn)便，可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。廣泛應(yīng)用于如納米材料、航空航天、半導(dǎo)體等各類(lèi)精密工件表面質(zhì)量要求高的領(lǐng)域中，可以說(shuō)只有3d非接觸式光學(xué)輪廓儀才能達(dá)到微型范圍內(nèi)重點(diǎn)部位的納米級(jí)粗糙度、輪廓等參數(shù)的測(cè)量。

SJ5730輪廓度自動(dòng)測(cè)量?jī)x是一款集成表面粗糙度和輪廓測(cè)量的測(cè)量?jī)x器，具有12mm的粗糙度測(cè)量范圍，分辨率達(dá)到1nm，適合測(cè)量大曲面上的表面粗糙度，同時(shí)具備軸承輪廓度評(píng)價(jià)功能，能夠滿(mǎn)足軸承行業(yè)的測(cè)量需求。可廣泛應(yīng)用于精密機(jī)械加工、汽車(chē)、軸承、機(jī)床、模具、精密五金、光學(xué)加工等行業(yè)。

SuperViewW1輪廓粗糙度光學(xué)測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理，能夠以?xún)?yōu)于納米級(jí)的分辨率，測(cè)試各類(lèi)表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)，廣泛應(yīng)用于光學(xué)，半導(dǎo)體，材料，精密機(jī)械等等領(lǐng)域。是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。

中圖儀器二維輪廓測(cè)量?jī)x集成表面粗糙度和輪廓測(cè)量的測(cè)量功能，它采用超高精度衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能伺服驅(qū)動(dòng)電機(jī)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)工件表面粗糙度和輪廓進(jìn)行高精度測(cè)量和分析。

SuperViewW1輪廓度光學(xué)測(cè)量?jī)x是以白光干涉技術(shù)為原理，能以亞納米級(jí)精度測(cè)量從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。